如何在掃描電鏡中使用自動對焦系統
在掃描電鏡（SEM）?中使用自動對焦系統可以顯著提高圖像質量和獲取效率。
MORE INFO → 行業動態 2024-09-24
在掃描電鏡（SEM）?中使用自動對焦系統可以顯著提高圖像質量和獲取效率。
MORE INFO → 行業動態 2024-09-24
在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，放大倍率和分辨率是兩個密切相關但不同的參數。
MORE INFO → 行業動態 2024-09-23
在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，冷臺（Cryo Stage）是用于實現低溫成像的關鍵組件，特別適合于成像熱敏樣品（如生物樣品、液態樣品或聚合物）。
MORE INFO → 行業動態 2024-09-23
在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，長時間掃描是一種有效減少圖像偽影（artifacts）的方法。
MORE INFO → 常見問題 2024-09-20
在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，探針污染會顯著影響成像質量。
MORE INFO → 行業動態 2024-09-20
掃描電子顯微鏡（SEM）?的真空系統對成像效果有著重要的影響，因為SEM的基本工作原理依賴于電子束與樣品相互作用，而這些相互作用需要在高真空環境下進行。
MORE INFO → 行業動態 2024-09-19
在掃描電子顯微鏡（SEM）?成像過程中，偽影（artifacts）是指非原生的圖像特征，它們并不反映樣品的真實結構或成分。
MORE INFO → 行業動態 2024-09-19
在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，工作距離（Working Distance, WD）是指電子槍發射出的電子束聚焦到樣品表面之間的距離。
MORE INFO → 行業動態 2024-09-18