掃描電鏡對(duì)真空度要求

掃描電鏡（SEM）對(duì)真空度要求非常高，這是因?yàn)樵谡婵窄h(huán)境下，可以有效地避免電子束與氣體分子發(fā)生碰撞，從而保持電子束的穩(wěn)定性和樣品的表面清晰度。

掃描電鏡可以檢測(cè)什么信號(hào)

掃描電鏡（SEM）主要檢測(cè)的是與樣品表面交互作用后產(chǎn)生的不同信號(hào)。

在掃描電鏡（SEM）成像過程中，樣品固定是非常重要的。以下是一些原因：

利用掃描電鏡（SEM）進(jìn)行納米結(jié)構(gòu)的動(dòng)態(tài)觀察和成像是一項(xiàng)復(fù)雜而挑戰(zhàn)性的任務(wù)，但可以通過以下方法實(shí)現(xiàn)：

應(yīng)對(duì)掃描電鏡成像中的樣品表面光滑度和粗糙度問題需要采取一系列的措施，以確保獲得清晰、準(zhǔn)確的成像結(jié)果：

掃描電鏡（SEM）成像中的樣品表面電荷積聚問題可能導(dǎo)致成像失真、圖像模糊以及假象的產(chǎn)生。

2024年4月27-29日，CIBF 2024（第十六屆重慶國(guó)際電池技術(shù)交流會(huì)/展覽會(huì)）將在重慶國(guó)際博覽中心舉行。

掃描電鏡成像中的電子束聚焦技術(shù)優(yōu)化和調(diào)節(jié)方法對(duì)于獲得清晰、高分辨率的圖像至關(guān)重要。