掃描電鏡的深度探針是什么？在什么情況下使用？

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，深度探針是指電子束在樣本表面掃描期間所能達到的深度范圍。

掃描電鏡的工作距離對圖像的影響

掃描電子顯微鏡（SEM）的工作距離是指樣本表面到電子透鏡（或稱為物鏡）的距離。

掃描電子顯微鏡（SEM）的樣品鍍膜是在需要觀察的樣本表面覆蓋一層薄膜，通常是金屬薄膜，以改善樣本在SEM中的成像性能。

透射電子顯微鏡（TEM）樣品桿是一個關鍵的部件，用于支持和定位樣品，以便在電子束穿透樣品時進行觀察。

透射電子顯微鏡（TEM）樣品桿的移動范圍可以因不同的TEM型號、制造商和配置而有所不同。

在透射電子顯微鏡（TEM）中，安裝樣品支架或夾具是一個精細且關鍵的操作，以確保樣品能夠穩定地放置在透射電鏡中，并且能夠在電子束下獲得清晰的圖像。

8月4日，安徽省經濟和信息化廳會同省發展改革委、省住房和城鄉建設廳、省農業農村廳、省商務廳、省文旅廳組織開展了2023年度省專精特新中小企業申報工作，公示了入選“2023年度安徽省專精特新企業名單”

8月9~11日，第十一屆（2023年）中國電子專用設備工業協會半導體設備年會暨產業鏈合作論壇和第十一屆（2023年）半導體設備與核心部件展示會(CSEAC)將在江蘇省無錫太湖國際博覽中心舉辦。