在掃描電鏡（SEM）中，樣品充電主要發(fā)生在非導(dǎo)電或低導(dǎo)電材料表面，因?yàn)槿肷潆娮訜o(wú)法及時(shí)導(dǎo)走，逐漸積累形成靜電電荷，導(dǎo)致圖像亮度變化、漂移甚至失真。要避免這種現(xiàn)象，可以從樣品制備、成像條件和設(shè)備設(shè)置三個(gè)方面著手：

1. 樣品制備階段

導(dǎo)電鍍膜：

在樣品表面均勻噴鍍一層導(dǎo)電材料（如金、金鈀合金、碳），厚度一般在 5–20 nm，既能導(dǎo)電又不會(huì)顯著遮擋細(xì)節(jié)。

導(dǎo)電粘接：

用導(dǎo)電膠帶、導(dǎo)電銀漿將樣品固定在樣品臺(tái)上，并保證鍍膜層與樣品臺(tái)接觸良好，形成導(dǎo)電通路。

去除絕緣雜質(zhì)：

避免樣品表面有油污、灰塵、膠水等非導(dǎo)電物質(zhì)覆蓋。

2. 成像條件優(yōu)化

降低加速電壓：

充電現(xiàn)象在高電壓下更明顯，適當(dāng)降低加速電壓（如從 15 kV 降到 3–5 kV）可減少電子注入量。

降低束流：

減小束流，減少單位時(shí)間進(jìn)入樣品的電子數(shù)量。

縮短掃描時(shí)間：

盡量避免長(zhǎng)時(shí)間在同一區(qū)域停留，減少電荷累積。

3. 設(shè)備功能輔助

使用低真空模式（Variable Pressure SEM / Environmental SEM）：

在樣品腔中引入少量氣體（如水蒸氣），電子束會(huì)電離氣體分子，形成的離子可中和樣品表面電荷。

電子/離子中和器：

部分掃描電鏡配有中和裝置，通過(guò)低能電子或離子流消除樣品表面電荷。