掃描電子顯微鏡冷凍樣品臺廠家-參數-價格
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡冷凍樣品臺基于液氮低溫制冷技術，溫度范圍：-160℃至80℃。PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 冷凍樣品臺 采用獨立冷源液氮制冷方式，冷臺溫度低至-160℃，兼容雙束掃描電子顯微鏡，滿足鋰離子電池等敏感材料的高質量截面及TEM樣品制備。冷凍樣品臺-技術指標低溫指標1. 制冷方式...
MORE INFO → 行業動態 2022-05-17
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡冷凍樣品臺基于液氮低溫制冷技術，溫度范圍：-160℃至80℃。PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 冷凍樣品臺 采用獨立冷源液氮制冷方式，冷臺溫度低至-160℃，兼容雙束掃描電子顯微鏡，滿足鋰離子電池等敏感材料的高質量截面及TEM樣品制備。冷凍樣品臺-技術指標低溫指標1. 制冷方式...
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PicoFemto系列掃描電鏡液體樣品臺，基于MEMS芯片封裝及電學芯片技術，實現掃描電鏡內原位液體-電化學實驗。PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 液體樣品臺 采用全新的O圈輔助密封設計，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問題。實驗中，樣品被密封在超薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內，池內可以承載一個大氣壓。芯片電極聯...
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PicoFemto系列掃描電子顯微鏡原位加熱臺基于MEMS加熱芯片技術，溫度范圍：室溫至1200攝氏度。PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡原位加熱臺 基于MEMS芯片加熱技術，無懼高溫對電鏡造成損失，通過更換不同芯片種類，實現掃描電鏡內的原位加熱/電學實驗。原位加熱臺-技術指標加熱控溫1. 四電極芯片加熱，帶溫度反...
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PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米探針臺實現了三維空間上的精確定位，具有小尺寸大行程、高定位精度、操作簡單、能在真空下使用等優點，使用于在SEM真空腔體內完成各種納米精度運動操作及物性測量。PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 納米探針臺 基于壓電陶瓷驅動技術，運動無需潤滑，兼容掃描電鏡真空環境，并可在多種溫度...
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PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學臺是動態觀察和分析納米材料力學行為的重要工具。PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 納米力學臺 集成了壓電驅動四軸樣品臺及定量力學壓頭，樣品及壓頭兩側同時控溫，是開展材料納米力學行為研究的重要工具。納米力學臺-技術指標力加載指標加熱控溫1. 載荷大小：0-100mN；1. ...
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PicoFemto系列掃描電子顯微鏡加熱拉伸臺是動態觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂的重要工具。PicoFemto 系列掃描電子顯微鏡 加熱拉伸樣品臺 是研究材料微觀變形行為的重要工具，通過軟件設定載荷、拉伸速率及溫度，結合掃描電鏡大景深、高分辨的優勢，可開展多種微觀力學實驗。加熱拉伸臺-技術指標力加載指標加熱控溫1....
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PicoFemto系列透射電鏡氣體樣品桿，基于MEMS芯片封裝及微區加熱技術，桿身集成氣路通道，實現透射電鏡內原位氣氛加熱實驗。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡氣體樣品桿基于MEMS芯片封裝及微區加熱技術，桿身集成氣路通道，在透射電子顯微鏡中營造高溫氣氛環境（ 1 Bar & 800 ℃） ，使研究者可以...
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PicoFemto系列透射電鏡原位光學樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術，樣品桿內集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實現透射電鏡內的光電測量或光譜學表征研究。PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位光學樣品桿 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，同時集成光纖單元，可外接光源或光譜儀，開展光電測量...
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