掃描電鏡的探針污染如何影響成像，如何清除？

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，探針污染會(huì)顯著影響成像質(zhì)量。

掃描電鏡的真空系統(tǒng)如何影響成像效果

掃描電子顯微鏡（SEM）?的真空系統(tǒng)對(duì)成像效果有著重要的影響，因?yàn)镾EM的基本工作原理依賴(lài)于電子束與樣品相互作用，而這些相互作用需要在高真空環(huán)境下進(jìn)行。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?成像過(guò)程中，偽影（artifacts）是指非原生的圖像特征，它們并不反映樣品的真實(shí)結(jié)構(gòu)或成分。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，工作距離（Working Distance, WD）是指電子槍發(fā)射出的電子束聚焦到樣品表面之間的距離。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，低導(dǎo)電性的樣品通常會(huì)引發(fā)一系列問(wèn)題，主要是由于電子束與樣品相互作用時(shí)產(chǎn)生的電子無(wú)法有效地從樣品中逸出，導(dǎo)致樣品表面積累電荷。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，分析樣品表面的化學(xué)成分通常依賴(lài)于能量色散X射線光譜（EDS 或 EDX）或波長(zhǎng)色散X射線光譜（WDS）等附加檢測(cè)器。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，工作距離（Working Distance, WD）是指樣品表面到物鏡（聚焦透鏡）的距離。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，測(cè)量顆粒的大小和分布通常需要結(jié)合圖像采集和后期圖像處理分析。