樣品桿在使用中出現(xiàn)松動(dòng)，如何處理？

在使用過(guò)程中，如果樣品桿出現(xiàn)松動(dòng)，需要立即處理以防止樣品損壞或數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。

如何在樣品桿上安裝多種類(lèi)型的樣品？

在樣品桿上安裝多種類(lèi)型的樣品時(shí)，需要考慮樣品的形狀、尺寸、材料及所使用的分析設(shè)備。

臺(tái)掃電鏡（SEM）對(duì)樣品的顆粒大小并沒(méi)有嚴(yán)格的要求，但顆粒大小會(huì)影響成像效果和分析結(jié)果。

在使用臺(tái)掃電鏡（SEM）分析樣品時(shí)，工作距離（working distance, WD）對(duì)觀察結(jié)果有顯著影響。

掃描電子顯微鏡（SEM）在低真空和高真空模式下工作時(shí)存在一些顯著的區(qū)別。

提高掃描電子顯微鏡（SEM）的放大倍數(shù)是為了觀察樣品的更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，工作距離（working distance，WD）是指電子束槍到樣品表面的距離。

掃描電鏡（SEM）工作時(shí)鏡筒內(nèi)的真空度是確保電子束正常傳輸和樣品表面電子散射檢測(cè)的重要因素。