掃描電鏡電子束輻射損傷和如何減輕

掃描電鏡中的電子束輻射損傷是指樣品在電子束照射下受到損害的現(xiàn)象。

掃描電鏡中的樣品舞臺(tái)和運(yùn)動(dòng)控制

掃描電鏡的樣品舞臺(tái)和運(yùn)動(dòng)控制是非常重要的組成部分，用于定位、移動(dòng)和旋轉(zhuǎn)樣品，以便進(jìn)行觀察和分析。

掃描電鏡的分辨率非常高，通常能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米級(jí)別的分辨率。

掃描電鏡通常可以用于獲得表面拓?fù)湫畔ⅰEM是一種高分辨率顯微鏡，廣泛用于觀察和表征材料的表面形貌、紋理和拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。

許多掃描電鏡都配備了可旋轉(zhuǎn)和傾斜的樣品臺(tái)。這些功能對(duì)于樣品的觀察和分析非常有用，因?yàn)樗鼈冊(cè)试S在不同方向上查看樣品表面，并以不同的角度觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)。

掃描電鏡通常適用于成像小至納米尺度的樣品表面，而不適用于大樣品的全尺寸成像。

掃描電鏡通常允許用戶調(diào)整對(duì)比度和亮度以優(yōu)化圖像的質(zhì)量和清晰度。

掃描電鏡（SEM）的電子源通常有兩種主要類型：