掃描電鏡的探針直徑和形狀對樣品觀察有何影響？

掃描電鏡的探針直徑和形狀對樣品觀察有著重要的影響。探針直徑和形狀直接影響掃描電鏡成像的分辨率、對比度、深度焦點(diǎn)和表面形貌等方面。

掃描電鏡的冷凍樣品觀察有何注意事項(xiàng)？

在掃描電鏡中觀察冷凍樣品時(shí)，有幾個(gè)注意事項(xiàng)需要注意：

掃描電鏡的深度焦點(diǎn)是指在掃描電鏡成像過程中，樣品表面的不同區(qū)域在垂直方向上仍能獲得較好清晰度的范圍。

掃描電子顯微鏡（SEM）的加速電壓對圖像分辨率有重要影響。

掃描電子顯微鏡（SEM）的能譜分析功能是通過能譜儀（EDS）或能量色散X射線光譜儀（EDX）實(shí)現(xiàn)的。

掃描電子顯微鏡的掃描速度是指電子束在樣品表面掃描的速度。

掃描電子顯微鏡（SEM）的探針電流是指通過樣品表面的電子束電流。

傳統(tǒng)的掃描電鏡（SEM）對于非導(dǎo)電樣品確實(shí)存在困難，因?yàn)榉菍?dǎo)電樣品在高真空環(huán)境下容易產(chǎn)生電荷積聚，導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降。