掃描電鏡樣品表面有放電現(xiàn)象怎么處理？

掃描電鏡（SEM）中樣品表面放電（充電效應(yīng)）會(huì)嚴(yán)重干擾成像，表現(xiàn)為亮斑、圖像扭曲或閃爍。

掃描電鏡怎樣獲得樣品的成分信息？

在掃描電鏡（SEM）中獲取樣品成分信息，主要通過(guò)能譜儀（EDS）和背散射電子（BSE）成像實(shí)現(xiàn)。

掃描電鏡（SEM）能夠觀察多種類型的樣品，但其制備要求和成像效果因樣品性質(zhì)（導(dǎo)電性、耐電子束能力、含水量等）而異。

當(dāng)掃描電鏡（SEM）開機(jī)后電子束無(wú)法對(duì)中時(shí)，可按以下步驟系統(tǒng)排查和調(diào)整：

掃描電鏡（SEM）對(duì)樣品尺寸和厚度的限制主要取決于其腔室設(shè)計(jì)、樣品臺(tái)承載能力、探測(cè)器類型以及電子束穿透深度等因素。

樣品在進(jìn)入掃描電鏡（SEM）觀察之前，為確保圖像質(zhì)量和避免損傷，通常需要進(jìn)行適當(dāng)?shù)那疤幚怼?/p>

判斷樣品表面是否被掃描電鏡的電子束燒蝕，通常可從圖像特征、操作變化及后處理觀察中綜合分析。

判斷掃描電鏡（SEM）圖像中的條紋是否為干擾（artifact），可以從以下幾個(gè)方面著手分析：