展會邀請丨澤攸科技誠邀您參加SEMI-e第六屆深圳國際半導體展
6月26日至28日，華南半導體領域具有影響力和代表性的行業盛會SEMI-e 2024第六屆深圳半導體展將在深圳國際會展中心（寶安新館）拉開序幕。
MORE INFO → 公司新聞 2024-06-20
6月26日至28日，華南半導體領域具有影響力和代表性的行業盛會SEMI-e 2024第六屆深圳半導體展將在深圳國際會展中心（寶安新館）拉開序幕。
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臺掃電鏡（SEM）對樣品的顆粒大小并沒有嚴格的要求，但顆粒大小會影響成像效果和分析結果。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-20
在使用臺掃電鏡（SEM）分析樣品時，工作距離（working distance, WD）對觀察結果有顯著影響。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-19
掃描電子顯微鏡（SEM）在低真空和高真空模式下工作時存在一些顯著的區別。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-18
提高掃描電子顯微鏡（SEM）的放大倍數是為了觀察樣品的更細微的結構和細節。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-18
中國化學會第34屆學術年會于2024年6月15日至18日在廣東省廣州國際白云會議中心舉行。
MORE INFO → 公司新聞 2024-06-17
在科技創新的浪潮中，澤攸科技以其研發實力和創新精神，不斷推動著儀器行業的發展。
MORE INFO → 公司新聞 2024-06-17
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，工作距離（working distance，WD）是指電子束槍到樣品表面的距離。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-14