電鏡助力公益┃澤攸科技用愛心點亮藏區(qū)孩子的科技夢

六一國際兒童節(jié)即將來臨，澤攸科技在這個節(jié)日前夕，開展了一場別開生面的公益科普活動。

電鏡進校園┃澤攸科技攜手西南交通大學(xué)子弟小學(xué)助力科普教育

5月30日，西南交通大學(xué)子弟小學(xué)科創(chuàng)節(jié)暨第二屆橋梁模型比賽，在洋溢著歡樂氣息的校園里拉開序幕，西南交通大學(xué)子弟小學(xué)里的孩子們興高采烈地展示著自己的創(chuàng)意作品。

在掃描電子顯微鏡（SEM）分析中，硅片常用于以下幾種情況：

對于非導(dǎo)電樣品，掃描電子顯微鏡（SEM）分析通常需要進行導(dǎo)電處理，以防止在電子束照射下產(chǎn)生電荷積累，導(dǎo)致圖像失真或漂移。

掃描電子顯微鏡（SEM）可以結(jié)合能量色散X射線光譜（EDS或EDX）來進行成分分析。

測量掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中的直徑需要一些特定的步驟和工具。

掃描電鏡（SEM）圖像的大小受到樣品與電子槍之間的距離（工作距離）的影響。這是由于SEM的工作原理決定的。

掃描電鏡（SEM）圖像變形通常可以通過以下方法進行調(diào)整：