掃描電鏡樣品表面太粗糙會影響成像嗎？

掃描電鏡（SEM）樣品表面太粗糙會明顯影響成像質(zhì)量。以下是其具體影響及原因：

掃描電鏡可以拍彩色圖像嗎？

掃描電鏡（SEM）原理上只能拍攝黑白圖像，不能直接拍攝彩色圖像。

在使用掃描電鏡（SEM）之前，良好的前期準備對確保成像質(zhì)量、避免樣品損壞和儀器污染至關(guān)重要。

掃描電鏡（SEM）能譜分析（EDS 或 EDX）對樣品制備有較高要求，制備不當會直接影響元素分析的準確性、峰位識別、含量判斷甚至導致誤判。

在掃描電鏡（SEM）中，能譜圖（EDS 或 EDX 圖）顯示的是樣品中不同元素對入射電子束響應(yīng)所產(chǎn)生的特征 X 射線的強度與能量的關(guān)系。

在掃描電鏡（SEM）成像過程中，圖像邊緣出現(xiàn)像差，常見表現(xiàn)包括模糊、拉伸、畸變或亮度不均，主要是由于電子束聚焦性能在邊緣區(qū)域變差導致的。

在掃描電鏡（SEM）觀察過程中，非導體樣品或?qū)щ娦圆畹臉悠繁砻嫒菀追e累電荷，這會導致圖像發(fā)白、模糊、漂移甚至“閃爍”，嚴重影響成像質(zhì)量。

如果掃描電鏡（SEM）圖像對比度太低，圖像會顯得灰蒙蒙、細節(jié)不清，無法分辨結(jié)構(gòu)差異。