掃描電鏡中如何避免樣品充電現象？
在掃描電鏡（SEM）中，樣品充電主要發生在非導電或低導電材料表面，因為入射電子無法及時導走，逐漸積累形成靜電電荷，導致圖像亮度變化、漂移甚至失真。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-13
在掃描電鏡（SEM）中，樣品充電主要發生在非導電或低導電材料表面，因為入射電子無法及時導走，逐漸積累形成靜電電荷，導致圖像亮度變化、漂移甚至失真。
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掃描電鏡（SEM）的樣品臺常見的運動方式主要包括以下幾類，每種運動方式都對應不同的調節需求：
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掃描電鏡（SEM）能看到的最小結構，取決于顯微鏡的類型、電子槍性能、探測器類型以及樣品制備情況。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-11
有區別，而且在操作方法、樣品制備、成像效果等方面差別不小。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-11
非導電樣品在掃描電鏡（SEM）中直接成像時容易出現電荷積累（charging）問題，導致圖像漂移、發亮斑點或模糊。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-08
在掃描電鏡（SEM）下，樣品充電（charging）主要發生在非導電或低導電材料表面，因為電子束轟擊后產生的多余電荷無法及時泄放。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-08
掃描電鏡（SEM）圖像中顆粒顯示模糊，通常是以下幾個原因造成的。根據經驗和常見問題，可以從以下幾個方面來排查和解決：
MORE INFO → 行業動態 2025-08-06
在使用掃描電鏡（SEM）拍圖時，建議關閉燈光（尤其是室內白熾燈、日光燈或輔助照明），具體原因如下：
MORE INFO → 行業動態 2025-08-04