掃描電鏡的散射電子衍射檢測(cè)器在電子顯微鏡中起到重要作用，可以提供有關(guān)樣品晶體結(jié)構(gòu)和晶體學(xué)信息。以下是散射電子衍射檢測(cè)器的主要作用：

結(jié)構(gòu)分析：散射電子衍射檢測(cè)器可用于分析樣品的晶體結(jié)構(gòu)。當(dāng)掃描電子束照射樣品時(shí)，樣品中的電子與晶格中的原子發(fā)生相互作用，導(dǎo)致電子的散射。通過檢測(cè)和分析散射電子的角度和強(qiáng)度分布，可以推斷樣品的晶體結(jié)構(gòu)、晶格參數(shù)、晶面取向等信息。這對(duì)于研究材料的晶體學(xué)特性、晶格缺陷和相變等現(xiàn)象非常重要。

定性和定量分析：散射電子衍射檢測(cè)器還可以用于定性和定量分析樣品的晶體學(xué)特征。通過比較實(shí)驗(yàn)衍射圖案與已知的標(biāo)準(zhǔn)或參考衍射圖案，可以確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)類型，并推斷出樣品的晶體學(xué)參數(shù)。同時(shí)，通過衍射峰的強(qiáng)度和位置，還可以進(jìn)行定量分析，如晶體的相對(duì)含量、晶體的純度等。

晶體取向分析：散射電子衍射檢測(cè)器可以用于測(cè)量樣品的晶體取向。通過旋轉(zhuǎn)樣品或探測(cè)器，記錄散射電子的衍射圖案，在不同角度下觀察到的衍射斑的位置和形狀的變化，可以確定樣品的晶體取向。這對(duì)于確定晶體的晶軸方向、晶體的取向分布以及晶體的取向關(guān)系等非常有用。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡

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