掃描電鏡如何使用多重圖層疊加對比不同放大圖像？

在掃描電鏡（SEM）中，為了對比同一區(qū)域在不同放大倍數下的圖像細節(jié)差異，可以使用圖像處理軟件實現“多重圖層疊加”對比。

掃描電鏡金屬噴鍍的厚度會影響圖像細節(jié)嗎？

在掃描電鏡（SEM）中進行金屬噴鍍時，噴鍍層的厚度確實會影響圖像細節(jié)的呈現，尤其是高分辨率成像和觀察微小結構時。

在掃描電鏡中，不同材料顯示出不同亮度，主要是因為它們的原子序數、電子散射能力和導電性不同，導致探測器接收到的信號強弱差異。

在掃描電鏡（SEM）中定位同一位置進行多次觀察，是實現重復成像、前后對比、時間演化研究的重要操作。

掃描電鏡（SEM）中的工作距離（Working Distance，簡稱 WD）是指電子槍發(fā)出的電子束末端（物鏡極柱）到樣品表面的垂直距離。

掃描電鏡（SEM）在成像過程中對樣品表面狀態(tài)非常敏感，樣品表面不平整（如高低起伏、傾斜、凹凸不平）會對圖像質量和分析結果產生多個方面的負面影響：

在掃描電鏡（SEM）觀察中，如果圖像出現漂移、跳動或位置不穩(wěn)定，可能是由于樣品偏移或不穩(wěn)定造成的。

當使用掃描電鏡（SEM）觀察非導電樣品（如生物樣本、陶瓷、高分子材料等）時，樣品帶電可能導致圖像模糊、偏移、亮度不均或漂移。