掃描電鏡怎樣獲得樣品的成分信息？
在掃描電鏡（SEM）中獲取樣品成分信息，主要通過能譜儀（EDS） 和 背散射電子（BSE）成像 實現。
MORE INFO → 行業動態 2025-05-08
在掃描電鏡（SEM）中獲取樣品成分信息，主要通過能譜儀（EDS） 和 背散射電子（BSE）成像 實現。
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掃描電鏡（SEM）能夠觀察多種類型的樣品，但其制備要求和成像效果因樣品性質（導電性、耐電子束能力、含水量等）而異。
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當掃描電鏡（SEM）開機后電子束無法對中時，可按以下步驟系統排查和調整：
MORE INFO → 行業動態 2025-05-07
掃描電鏡（SEM）對樣品尺寸和厚度的限制主要取決于其腔室設計、樣品臺承載能力、探測器類型以及電子束穿透深度等因素。
MORE INFO → 行業動態 2025-05-07
樣品在進入掃描電鏡（SEM）觀察之前，為確保圖像質量和避免損傷，通常需要進行適當的前處理。
MORE INFO → 行業動態 2025-05-06
判斷樣品表面是否被掃描電鏡的電子束燒蝕，通常可從圖像特征、操作變化及后處理觀察中綜合分析。
MORE INFO → 行業動態 2025-05-06
判斷掃描電鏡（SEM）圖像中的條紋是否為干擾（artifact），可以從以下幾個方面著手分析：
MORE INFO → 行業動態 2025-04-30
掃描電鏡（SEM）中的能譜分析（EDS）中出現假峰（artifact peaks）或偽峰（spurious peaks），可能由以下幾類原因引起：
MORE INFO → 行業動態 2025-04-30