非導電樣品在SEM中如何避免充電效應？

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，非導電樣品（如聚合物、陶瓷、生物材料等）容易出現(xiàn)充電效應，導致圖像發(fā)亮、偏移、拉伸、失真甚至無法成像。

如何判斷掃描電鏡是否需要重新調焦？

判斷掃描電鏡（SEM）是否需要重新調焦，可以通過以下幾個方法和信號來判斷：

在掃描電鏡（SEM）中，調節(jié)樣品臺傾斜角度的作用主要有以下幾點：

在掃描電鏡（SEM）成像時，如果圖像對比度太低，可以通過以下方法調整改善：

掃描電鏡（SEM）使用時如果電源不穩(wěn)定，會對成像產(chǎn)生一系列直接且顯著的負面影響，主要體現(xiàn)在以下幾個方面：

掃描電鏡（SEM）圖像出現(xiàn)亮度不均，一般說明系統(tǒng)內(nèi)部或操作設置上出現(xiàn)了問題。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中避免樣品燒毀，是保障樣品完整性和成像質量的關鍵。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，實現(xiàn)斷層掃描（Tomographic Scanning）與深度成像（Depth Imaging）并非傳統(tǒng)SEM的標準功能。