掃描電鏡圖像變亮或過(guò)曝怎么辦？

當(dāng)掃描電鏡（SEM）圖像變亮或出現(xiàn)過(guò)曝現(xiàn)象時(shí)，說(shuō)明圖像中部分區(qū)域亮度過(guò)高，導(dǎo)致細(xì)節(jié)丟失、圖像偏白或泛光。

掃描電鏡拍圖時(shí)是否需要調(diào)整樣品高度？

掃描電鏡（SEM）拍圖時(shí)通常需要調(diào)整樣品的高度，這是成像質(zhì)量和操作效率的重要因素。

掃描電鏡（SEM）成像時(shí)出現(xiàn)干擾條紋，通常是由于外部干擾、電氣系統(tǒng)異常或樣品問(wèn)題引起的。

掃描電鏡（SEM）圖像采集過(guò)程中是可以實(shí)時(shí)調(diào)參的，而且這是實(shí)際操作中非常重要的一部分。

掃描電鏡（SEM）電子束聚焦不良時(shí)，圖像通常會(huì)模糊、不銳利，難以分辨細(xì)節(jié)。

掃描電鏡（SEM）對(duì)同一樣品在不同時(shí)間拍攝出現(xiàn)圖像差異是正常的現(xiàn)象，特別是在高分辨率或高放大倍率下。

判斷掃描電鏡（SEM）圖像是否對(duì)焦清晰，可以通過(guò)以下幾個(gè)方面來(lái)進(jìn)行直觀和技術(shù)性的判斷：

當(dāng)掃描電鏡（SEM）樣品尺寸太大，無(wú)法直接放入樣品倉(cāng)或樣品臺(tái)時(shí)，可以采取以下幾種方法應(yīng)對(duì)，確保安全、成像清晰且設(shè)備不受損：