掃描電鏡中如何避免樣品充電現(xiàn)象？

在掃描電鏡（SEM）中，樣品充電主要發(fā)生在非導(dǎo)電或低導(dǎo)電材料表面，因為入射電子無法及時導(dǎo)走，逐漸積累形成靜電電荷，導(dǎo)致圖像亮度變化、漂移甚至失真。

掃描電鏡的樣品臺有哪幾種運(yùn)動方式？

掃描電鏡（SEM）的樣品臺常見的運(yùn)動方式主要包括以下幾類，每種運(yùn)動方式都對應(yīng)不同的調(diào)節(jié)需求：

掃描電鏡（SEM）能看到的最小結(jié)構(gòu)，取決于顯微鏡的類型、電子槍性能、探測器類型以及樣品制備情況。

有區(qū)別，而且在操作方法、樣品制備、成像效果等方面差別不小。

非導(dǎo)電樣品在掃描電鏡（SEM）中直接成像時容易出現(xiàn)電荷積累（charging）問題，導(dǎo)致圖像漂移、發(fā)亮斑點(diǎn)或模糊。

在掃描電鏡（SEM）下，樣品充電（charging）主要發(fā)生在非導(dǎo)電或低導(dǎo)電材料表面，因為電子束轟擊后產(chǎn)生的多余電荷無法及時泄放。

掃描電鏡（SEM）圖像中顆粒顯示模糊，通常是以下幾個原因造成的。根據(jù)經(jīng)驗和常見問題，可以從以下幾個方面來排查和解決：

在使用掃描電鏡（SEM）拍圖時，建議關(guān)閉燈光（尤其是室內(nèi)白熾燈、日光燈或輔助照明），具體原因如下：