掃描電鏡成像為什么有亮暗對比？

亮暗對比是掃描電鏡（SEM）圖像基本的特征之一。亮暗對比的形成，主要來自樣品表面與電子束相互作用后信號的差異。

掃描電鏡可以直接測量尺寸嗎？

在掃描電鏡（SEM）里，圖像是通過電子束掃描和信號采集生成的，像素大小與放大倍數(shù)和工作條件直接相關(guān)。

掃描電鏡（SEM）并不能直接測量樣品的厚度，因為 SEM 的成像原理是基于電子束與樣品表面相互作用后產(chǎn)生的二次電子。

掃描電鏡（SEM）能看到的最小結(jié)構(gòu)，取決于它的分辨率，而分辨率又受電子槍類型、加速電壓、樣品制備和探測模式等因素影響。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，電子束與樣品相互作用會產(chǎn)生多種信號，不同的檢測模式對應(yīng)不同的物理信息。

掃描電鏡（SEM）之所以必須在真空環(huán)境下工作，主要有以下幾個原因：

掃描電鏡（SEM）的像差主要來自電子光學(xué)系統(tǒng)中電子束的聚焦與成像缺陷，常見的類型主要有以下幾類：

掃描電鏡（SEM）是能實現(xiàn)三維重構(gòu)的，但它本身并不是直接拍 3D 圖像的，而是通過一系列手段間接獲得三維表面信息。